Tomografia de Impedância Elétrica: Métodos Computacionais Código: 739566

  • Olavo Henrique Menin
LIVRARIA DA FISICA EDITORA
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Características do Produto

Autor(es)
  • Olavo Henrique Menin
ISBN9788578614294
Numero de Páginas188
Numero de Edição1
Ano de Edição2016
EditoraLIVRARIA DA FISICA EDITORA
Ano de Publicação2016
EncadernaçãoBrochura
OrigemNacional

Sinopse

Grande parte do sucesso da medicina moderna se deve ao desenvolvimento das técnicas de diagnósticos por imagem, tais como a tomografia computadorizada, a ultrasonografia e a ressonância magnética nuclear. Dentre essas técnicas, a tomografia de impedâ ncia elétrica (TIE) vem chamando a atenção de pesquisadores das mais diferentes áreas . Considerada uma técnica não invasiva e de baixo custo, a TIE vem ganhando maturidade nas ultimas décadas e muito esforço tem sido despendido, tanto no aperfeiçoa mento da parte instrumental como no desenvolvimento de algoritmos numéricos. Este livro é uma introdução a alguns métodos computacionais aplicados á TIE. Com uma linguagem didática e simples, o texto discorre sobre a formulação matemática do problema da reconstrução da imagem na TIE e faz uma revisão sobre problemas inversos, técnicas de regularização e métodos de otimização. Mais especificamente , o texto apresenta o Método dos Elementos de Contorno como técnica para resolver numericamente o pr oblema direto ( composto pela equação de Laplace e condições de contorno) e o algoritmo de otimização estocástico Simulated Annealing para tratar do problema inverso.
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